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Capacitor Life (HALT) Test System 晶片電容器加速老化壽命測試系統          加速老化壽命測試系統( HALT)用於瞭解產品品質的可靠度、穩定度的測        試，依選取樣品數量做加壓及加溫測試，電腦系統對於被測物(DUT)讀        取數據並判別好壞，可計算出MTBF值、輸出曲線圖及報表，以供使用者        做分析使用。              本系統用於晶片電容器之測試，可提供每台爐體裝設八台DC電源供器，        可設置8種不同電源，每個電腦系統可連結32台爐體，提供測試能力        (500V /81,920 PCS；3.5KV/24,576PCS； 6KV/12,288PCS)。            本公司提供多樣治具選擇，可客制化規劃，歡迎來電詢問與研討。      多樣化製具提供選擇                Model: HT-3280             Testing Voltage Range: DC5V~500V           Testing Capacity: 2560 pcs for a chamber           Testing Zone: one temperature zone (up to 150℃)           Model: HT-1680             Testing Voltage Range: DC5V~500V           Testing Capacity: 1280 pcs for a chamber           Testing Zone: one temperature zone (up to 150℃)           Model: HT-3224             Testing Voltage Range: DC500V~3.5KV           Testing Capacity: 768 pcs for a chamber           Testing Zone: one temperature zone (up to 150℃)           Model: HT- 3212             Testing Voltage Range: DC500V~6KV           Testing Capacity: 384 pcs for a chamber           Testing Zone: one temperature zone (up to 150℃)           Model: DZ-1680             Testing Voltage Range: DC5V~500V           Testing Capacity: 2560 pcs for a chamber           Testing Zone: Two temperature zones (up to 150℃)